用于功能测试系统的 CRR 继电器
功能测试系统正持续向更大规模、更高引脚数和更复杂结构发展。每个测试引脚通常需要3至5个测试连接点,且各连接点之间必须保持电气隔离。任何漏电通路的引入都可能干扰被测信号,甚至导致信号功能失效。随着引脚数量的增加,测试连接点的数量也急剧上升。此时,采用超小型表面贴装继电器(CRR系列)满足这些测试连接需求成为理想方案,其关键规格如下:
- 尺寸极小(8.6 x 4.4 x 3.55 毫米)
- 可在电路板两侧安装干簧继电器
- 标准内部磁屏蔽,即使在最狭窄的矩阵中也能消除任何磁相互作用
- 所有点的绝缘电阻通常为1014欧姆
- 触点之间的隔离电压超过 200 伏
- 开关和线圈之间的隔离电压至少为 1500 伏
- 触点间的热偏移电压不超过 1 微伏
- 触点电容小于 0.2 pf
用于晶片、存储器和集成电路测试系统的 CRF 继电器
随着时钟速率不断提升,集成电路与晶圆测试设备的结构日趋复杂。当时钟速率达到2吉赫兹范围时,系统组件需能传输频率响应达8至10吉赫兹范围的连续波信号。为保障高速数字信号在通过系统切换组件时不产生畸变或反射,这些新型频率响应特性已成为必备条件。
CRF 干簧继电器是这些元件测试仪中的理想开关,原因如下:
- 7 GHz 的频率响应是当前的关键需求
- 通过继电器的上升时间变化典型值为 40 皮秒
- 高回波损耗
- 6 GHz 时插入损耗小于 1 dB
- 体积极小
- 能够在电路板两侧安装干簧继电器(内部磁屏蔽消除了任何磁相互作用)
- 所有点的绝缘电阻通常为1014欧姆
- 触点之间的隔离电压超过 200 伏
- 开关和线圈之间的电压至少为 1500 伏
- 触点间的热偏移电压不超过 1 微伏
- 触点电容小于 0.2 pf
- 打开触点到屏蔽的电容为 0.6 pf
仪表级继电器:CRR 和 CRF
- 在需要电压隔离的万用表测量输入端,要求具备低电压偏移(量级为1微伏或更低)与极低亚皮安级漏电流特性。
- 在需要高频响应、低漏电与电压隔离的反馈回路中,保障信号完整性。
- 在需要高频响应的衰减器中,低漏电路径、长寿命(超1亿次操作)及彻底消除模块间失真是关键需求
多极配置
当电路需要共用连接点时,寄生电容会成为实际难题。传统方案往往难以有效降低此类电容。采用我们的新型继电器方案,可轻松配置带共用连接点的多极继电器,从而实现更低的寄生电容。通过便捷添加继电器驱动器、连接器等组件,可快速构建射频开关模块、射频衰减器、收发切换开关、T型开关等系统。
