隆重推出Standex Detect——精密电子领域崭新品牌

Standex Detect隶属于全新更名的Standex Electronics产品系列。我们始终专注于精密干簧开关、传感器和继电器领域,致力于在恰当的时机以最优成本提供精准设计。欢迎阅读我们的新闻稿,深入了解此次变革如何强化我们的全球协作与创新能力。

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磁簧开关和动态接触电阻

动态接触电阻 (DCR) 测试可测量磁簧开关的性能,以防止过早出现故障、提高可靠性并确保关键应用中的无故障运行。

“动态接触电阻是一种 “真正的 “测试,也是测量磁簧开关接触电阻的一种方法,可确保无故障运行和最大开关效率。

如果您在某些方面需要帮助,请跳至以下任何章节:

简介

磁簧开关简化了通过产品或系统进行能量传递的过程,但是磁簧开关的功能远不止这些。开关 “行为本身的复杂性以及可能影响磁簧开关功能的众多因素是需要理解的关键概念。磁簧开关的健康状况和功能是一个重要的问题,存在许多威胁,这也是 Standex Detect 建议进行动态接触电阻测试的原因。

用于测量磁簧开关触点动态接触电阻的典型电路。

什么是动态接触电阻测试?

动态接触电阻是一种 “真实 “测试,也是测量磁簧开关叶片接触电阻的一种方法。该测试可确保使用的所有工具不会对磁簧开关产生不利影响。此外,该测试还能消除过早故障,提高设备和技术系统的长期可靠性。

我们典型的动态接触电阻测试包括每秒操作磁簧触点约 100 次。按此速度,我们会在触点闭合后约 1 毫秒测量触点电阻。如果触点干净(意味着触点上没有污染物)且磁簧开关完好无损,我们通常会得到肯定的结果。但是,如果存在最轻微的问题,触点电阻将不会在 1 毫秒的时间范围内稳定下来。从而导致磁簧开关被拒绝或失效。DCR 测试是检查磁簧开关状况和能力的最准确、最有效的方法。此外,DCR 测试还有助于确定在磁簧开关生产过程中是否有任何需要纠正的地方。

典型或合格的动态接触电阻测试。波形显示了首次闭合、触点反弹、动态噪音以及磁簧触点晃动产生的波形。

许多因素都可能对磁簧开关的功能造成干扰。下面列出的这些干扰可导致 DCR 故障:

  • 磁簧开关通常在装配时受力过大
  • 磁簧密封上出现细小裂纹
  • 磁簧开关断裂
  • 接触区域的电镀或溅射剥落
  • 玻璃封装中的空气污染
  • 磁簧触点上的颗粒

DCR 测试故障的外观

以下是一些显示各种 DCR 故障的电气模式示例。

DCR 故障 “触点过度反弹 “表明触点闭合力较弱,肯定会缩短开关的使用寿命

DCR 测试的电气模式显示由于触点反弹过大而导致的故障。

DCR 故障 “动态噪音过大 “和 “触点波动过大 “都是由潜在的应力或破裂的玻璃开关密封造成的

动态接触电阻测试失败,显示动态噪音过大。
动态接触电阻测试失败,显示触点过度晃动。

接触污染、密封泄漏、颗粒或电镀剥落导致的 DCR 故障 “接触电阻变化

动态接触电阻测试失败,显示每次连续操作时接触电阻都在变化,表明接触污染。

动态接触电阻测试因素

在完成 DCR 测试时,有几个不同的因素会决定测试的方法。例如,您进行的测试和得到的结果将基于以下五个因素。

  1. 磁簧开关尺寸
  2. 线圈电感
  3. 谐波运动
  4. 电压
  5. 超速水平

较大的磁簧开关具有更大的惯性,磁簧叶片也更坚硬。这会导致初始磁簧闭合时间增加,需要磁性更强、电感更大的线圈,并增加严重阻尼谐波运动的影响。相反,较小的磁簧开关具有较小的惯性和较高的灵活性,因此其行为方式与较大的磁簧开关相反。磁簧开关的尺寸及其线圈的连续电感会对动态开关特性产生重大影响。当磁簧触点接触时,它们会产生一定的动量,使磁簧振动。这种振动被称为临界阻尼谐波运动,是 DCR 测试中的一个重要概念。

当簧片发生临界阻尼谐波运动时,它们会在玻璃罩内发生微观运动。这种运动是在线圈产生的磁场中进行的,当金属在磁场中运动时,金属中会产生感应电流。该电流是测量 DCR 测试的关键部分。线圈的过载也是进行 DCR 测量的关键参数。从本质上讲,它是高于实际拉入点(或闭合点)的电压(或电流),在此进行 DCR 测量。

结论

簧片开关为我们提供了一种独特的能力,几乎可以在任何环境下利用简单的磁铁打开和关闭触点,为开关创新提供了广阔的空间。为了确保无故障运行、最高效率和持续的磁簧开关创新,必须进行动态接触电阻测试。因此,Standex Detect DCR 对我们基于磁簧开关的组件进行 100% 的测试,以确保客户获得最高的质量和可靠性。

请联系我们的团队,详细了解我们精心设计的解决方案。

其他资源

有关磁簧开关如何与永磁体配合使用的更多信息,请下载我们的磁簧技术资料册

该资料册将深入介绍什么是磁簧开关以及磁簧开关如何工作,其中包括各种应用、功能和优点的大量示例。

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